ホーム アンプ オペアンプ (OP アンプ) 高速オペアンプ (50MHz 以上のゲイン帯域幅:GBW)

2.7GHz、13V、非補償型、7V/V、FET 入力オペアンプ

製品詳細

Architecture FET / CMOS Input, Voltage FB Number of channels 1 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (min) (V) 6 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (max) (V) 13 GBW (typ) (MHz) 2700 BW at Acl (MHz) 765 Acl, min spec gain (V/V) 7 Slew rate (typ) (V/µs) 1400 Vn at flatband (typ) (nV√Hz) 2.2 Vn at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 8.5 Iq per channel (typ) (mA) 27.7 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 1.25 Rail-to-rail No Features Decompensated Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125 CMRR (typ) (dB) 90 Input bias current (max) (pA) 25 Offset drift (typ) (µV/°C) 3 Iout (typ) (mA) 55 2nd harmonic (dBc) -84 3rd harmonic (dBc) -106 Frequency of harmonic distortion measurement (MHz) 1
Architecture FET / CMOS Input, Voltage FB Number of channels 1 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (min) (V) 6 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (max) (V) 13 GBW (typ) (MHz) 2700 BW at Acl (MHz) 765 Acl, min spec gain (V/V) 7 Slew rate (typ) (V/µs) 1400 Vn at flatband (typ) (nV√Hz) 2.2 Vn at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 8.5 Iq per channel (typ) (mA) 27.7 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 1.25 Rail-to-rail No Features Decompensated Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125 CMRR (typ) (dB) 90 Input bias current (max) (pA) 25 Offset drift (typ) (µV/°C) 3 Iout (typ) (mA) 55 2nd harmonic (dBc) -84 3rd harmonic (dBc) -106 Frequency of harmonic distortion measurement (MHz) 1
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 WSON (DRG) 8 9 mm² 3 x 3
  • 高速度:
    • ゲイン帯域幅積 (GBWP):2.7GHz
    • 帯域幅 (G = 7V/V):765MHz
    • 大信号帯域幅 (2VPP):400MHz
    • スルーレート:1400V/µs
  • 非補償型ゲイン:7V/V で安定
  • 低ノイズ:
    • 入力電圧ノイズ:2.2nV/√Hz
    • 入力電流ノイズ:3fA/√Hz (f = 10kHz)
  • 入力バイアス電流:4pA (標準値)
  • 低入力容量:
    • 同相:1.9pF
    • 差動モード:0.5pF
  • 低歪み (G = 7V/V、RL = 1kΩ、VO = 2VPP):
    • 1MHz での HD2、HD3:–104dBc、–108dBc
    • 50MHz での HD2、HD3:–57dBc、–72dBc
  • 幅広い電源電圧範囲:6V ~ 13V
  • 出力スイング: 8VPP (VS = 10V)
  • 消費電流:27.7mA
  • シャットダウン時の電源電流:27µA
  • OPA657 の性能アップグレード版
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    • 入力電圧ノイズ:2.2nV/√Hz
    • 入力電流ノイズ:3fA/√Hz (f = 10kHz)
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  • 低入力容量:
    • 同相:1.9pF
    • 差動モード:0.5pF
  • 低歪み (G = 7V/V、RL = 1kΩ、VO = 2VPP):
    • 1MHz での HD2、HD3:–104dBc、–108dBc
    • 50MHz での HD2、HD3:–57dBc、–72dBc
  • 幅広い電源電圧範囲:6V ~ 13V
  • 出力スイング: 8VPP (VS = 10V)
  • 消費電流:27.7mA
  • シャットダウン時の電源電流:27µA
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OPA818 は、高速、高精度、広いダイナミック レンジのアプリケーションに適した非補償型電圧帰還オペアンプです。OPA818 は、広いゲイン帯域幅と 6V ~ 13V の広い電源電圧範囲を兼ね備えた低ノイズの JFET 入力段を備えています。高速スルーレート (1400V/µs) により、高い大信号帯域幅と低歪みを実現できます。このアンプは、TI 独自の高速、シリコン ゲルマニウム (SiGe) プロセスで製造されており、他の高速 FET 入力アンプと比較して大幅な性能向上を達成しています。

OPA818 は非常に多用途で広帯域 TIA フォトダイオード アンプで、光テストおよび通信機器、さらに多くの医療用、科学用、産業用機器に使用されています。OPA818 に、2.7GHz GBWP、2.4pF の低い合計入力容量、2.2nV/√Hz の入力ノイズを示します。OPA818 は、出力スイングが広い 20kΩ TIA ゲイン (RF) および 0.5pF のフォトダイオード容量 (CD) により、TIA 構成で 85MHz 信号帯域幅以上を実現します。入力バイアス電流がピコアンペア単位の低ノイズ アーキテクチャは、テストおよび測定アプリケーションにも最適です。通常は 7V/V 以上のゲインで安定しますが、OPA818 はノイズ ゲイン シェーピング手法を適用することで、より低いゲインのアプリケーションでも使用できるように設計されています。

OPA818 は、放熱用の露出サーマル パッドが付いた 5 ピン SOT-23 パッケージおよび 8 リードの WSON パッケージで供給されます。このデバイスは、産業用温度範囲の –40°C ~ +85°C で動作が規定されています。

OPA818 は、高速、高精度、広いダイナミック レンジのアプリケーションに適した非補償型電圧帰還オペアンプです。OPA818 は、広いゲイン帯域幅と 6V ~ 13V の広い電源電圧範囲を兼ね備えた低ノイズの JFET 入力段を備えています。高速スルーレート (1400V/µs) により、高い大信号帯域幅と低歪みを実現できます。このアンプは、TI 独自の高速、シリコン ゲルマニウム (SiGe) プロセスで製造されており、他の高速 FET 入力アンプと比較して大幅な性能向上を達成しています。

OPA818 は非常に多用途で広帯域 TIA フォトダイオード アンプで、光テストおよび通信機器、さらに多くの医療用、科学用、産業用機器に使用されています。OPA818 に、2.7GHz GBWP、2.4pF の低い合計入力容量、2.2nV/√Hz の入力ノイズを示します。OPA818 は、出力スイングが広い 20kΩ TIA ゲイン (RF) および 0.5pF のフォトダイオード容量 (CD) により、TIA 構成で 85MHz 信号帯域幅以上を実現します。入力バイアス電流がピコアンペア単位の低ノイズ アーキテクチャは、テストおよび測定アプリケーションにも最適です。通常は 7V/V 以上のゲインで安定しますが、OPA818 はノイズ ゲイン シェーピング手法を適用することで、より低いゲインのアプリケーションでも使用できるように設計されています。

OPA818 は、放熱用の露出サーマル パッドが付いた 5 ピン SOT-23 パッケージおよび 8 リードの WSON パッケージで供給されます。このデバイスは、産業用温度範囲の –40°C ~ +85°C で動作が規定されています。

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技術資料

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設計と開発

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ユーザー ガイド: PDF
英語版 (Rev.A): PDF
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
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購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブ拠点
  • アセンブリ拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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