ADS1282-SP

アクティブ

高分解能 A/D コンバータ (ADC)

製品詳細

Resolution (Bits) 31 Sample rate (max) (ksps) 4 Number of input channels 2 Interface type SPI Architecture Delta-Sigma Input type Differential Multichannel configuration Multiplexed Rating Space Reference mode External Input voltage range (max) (V) 1.15, 3.75 Input voltage range (min) (V) -1.9, 0.7 Features PGA Operating temperature range (°C) -55 to 125 Power consumption (typ) (mW) 25 Analog supply voltage (min) (V) -2.5, 0 Analog supply voltage (max) (V) 2.5, 5 SNR (dB) 130 Digital supply (min) (V) 1.65 Digital supply (max) (V) 3.6
Resolution (Bits) 31 Sample rate (max) (ksps) 4 Number of input channels 2 Interface type SPI Architecture Delta-Sigma Input type Differential Multichannel configuration Multiplexed Rating Space Reference mode External Input voltage range (max) (V) 1.15, 3.75 Input voltage range (min) (V) -1.9, 0.7 Features PGA Operating temperature range (°C) -55 to 125 Power consumption (typ) (mW) 25 Analog supply voltage (min) (V) -2.5, 0 Analog supply voltage (max) (V) 2.5, 5 SNR (dB) 130 Digital supply (min) (V) 1.65 Digital supply (max) (V) 3.6
CFP (HKV) 28 231.521 mm² 18.23 x 12.7
  • QMLV (QML Class V) MIL-PRF-38535認定済みで放射線耐性保証(RHA)、SMD 5962-14231
    • 5962L1423101VXC - 軍事用温度範囲(-55°C~125°C)で認定済み
    • 5962L1423102VXC - 縮小温度範囲(-55°C~115°C)で動的性能改善の認定済み
  • 5962L14231
    • 吸収線量(TID) 50kRAD (Si)までの放射線耐性保証(RHA)
    • シングル・イベント・ラッチアップ(SEL)耐性: LET = 50MeV-cm2/mg (125°C)
    • シングル・イベント・ラッチアップ(SEL)耐性: LET = 60MeV-cm2/mg (85°C)
  • 高分解能: 124dB SNR (1000SPS)
  • 高精度: THD: -102dB
    INL: 0.5ppm
  • 低ノイズのPGA
  • 2チャネルの入力MUX
  • 本質的に安定な変調器で、範囲外検出に迅速に応答
  • 柔軟なデジタル・フィルタ:
    • Sinc + FIR + IIR (選択可能)
    • リニアまたは最小位相応答
    • プログラム可能なハイパス・フィルタ
    • FIRデータ・レートを選択可能:
      250SPS~4kSPS
  • フィルタ・バイパス・オプション
  • 低消費電力: 25mW
  • オフセットおよびゲイン較正エンジン
  • SYNC入力
  • アナログ電源:ユニポーラ(5V)またはバイポーラ(±2.5V)
  • デジタル電源: 1.75~3.3V
  • QMLV (QML Class V) MIL-PRF-38535認定済みで放射線耐性保証(RHA)、SMD 5962-14231
    • 5962L1423101VXC - 軍事用温度範囲(-55°C~125°C)で認定済み
    • 5962L1423102VXC - 縮小温度範囲(-55°C~115°C)で動的性能改善の認定済み
  • 5962L14231
    • 吸収線量(TID) 50kRAD (Si)までの放射線耐性保証(RHA)
    • シングル・イベント・ラッチアップ(SEL)耐性: LET = 50MeV-cm2/mg (125°C)
    • シングル・イベント・ラッチアップ(SEL)耐性: LET = 60MeV-cm2/mg (85°C)
  • 高分解能: 124dB SNR (1000SPS)
  • 高精度: THD: -102dB
    INL: 0.5ppm
  • 低ノイズのPGA
  • 2チャネルの入力MUX
  • 本質的に安定な変調器で、範囲外検出に迅速に応答
  • 柔軟なデジタル・フィルタ:
    • Sinc + FIR + IIR (選択可能)
    • リニアまたは最小位相応答
    • プログラム可能なハイパス・フィルタ
    • FIRデータ・レートを選択可能:
      250SPS~4kSPS
  • フィルタ・バイパス・オプション
  • 低消費電力: 25mW
  • オフセットおよびゲイン較正エンジン
  • SYNC入力
  • アナログ電源:ユニポーラ(5V)またはバイポーラ(±2.5V)
  • デジタル電源: 1.75~3.3V

ADS1282-SPは、放射線耐性の高い超高性能シングルチップA/Dコンバータ(ADC)で、低ノイズのプログラマブル・ゲイン・アンプ(PGA)と2チャネルの入力マルチプレクサ(MUX)を内蔵しています。ADS1282-SPは、非常に高い精度を実現しながら、放射線耐性を維持して、宇宙用途の厳しい要求を満たし、各種の衛星、ペイロード、センシング、その他過酷な環境のアプリケーションに適しています。

このコンバータは、4次の本質的に安定なデルタ-シグマ(ΔΣ)変調器を使用しており、ノイズおよび線形性の性能が非常に優れています。この変調器は、オンチップのデジタル・フィルタと組み合わせて使用することも、バイパスして後処理フィルタとともに使用することもできます。

柔軟な入力マルチプレクサにより、測定用の追加の外部入力と、内部の自己テスト接続を使用できます。PGAは非常に低ノイズで(5nV/√Hz)、入力インピーダンスが高いため、広い範囲のゲインで、トランスデューサと簡単に接続できます。

デジタル・フィルタは、毎秒250~4000サンプル(SPS)のデータ・レートを選択できます。ハイパス・フィルタ(HPF)はコーナー周波数を設定可能です。オンチップのゲインおよびオフセットのスケーリング・レジスタが、システム較正をサポートします。

同期入力(SYNC)を使用して、複数のADS1282の変換を同期できます。SYNC入力はクロック入力も受け付け可能で、変換を外部のソースと継続的に同期できます。

アンプ、変調器、フィルタの合計消費電力は30mWです。ADS1282-SPは、-55°C~125°Cで完全に動作が規定されています。

ADS1282-SPは、放射線耐性の高い超高性能シングルチップA/Dコンバータ(ADC)で、低ノイズのプログラマブル・ゲイン・アンプ(PGA)と2チャネルの入力マルチプレクサ(MUX)を内蔵しています。ADS1282-SPは、非常に高い精度を実現しながら、放射線耐性を維持して、宇宙用途の厳しい要求を満たし、各種の衛星、ペイロード、センシング、その他過酷な環境のアプリケーションに適しています。

このコンバータは、4次の本質的に安定なデルタ-シグマ(ΔΣ)変調器を使用しており、ノイズおよび線形性の性能が非常に優れています。この変調器は、オンチップのデジタル・フィルタと組み合わせて使用することも、バイパスして後処理フィルタとともに使用することもできます。

柔軟な入力マルチプレクサにより、測定用の追加の外部入力と、内部の自己テスト接続を使用できます。PGAは非常に低ノイズで(5nV/√Hz)、入力インピーダンスが高いため、広い範囲のゲインで、トランスデューサと簡単に接続できます。

デジタル・フィルタは、毎秒250~4000サンプル(SPS)のデータ・レートを選択できます。ハイパス・フィルタ(HPF)はコーナー周波数を設定可能です。オンチップのゲインおよびオフセットのスケーリング・レジスタが、システム較正をサポートします。

同期入力(SYNC)を使用して、複数のADS1282の変換を同期できます。SYNC入力はクロック入力も受け付け可能で、変換を外部のソースと継続的に同期できます。

アンプ、変調器、フィルタの合計消費電力は30mWです。ADS1282-SPは、-55°C~125°Cで完全に動作が規定されています。

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技術資料

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* データシート ADS1282-SP 放射線耐性保証の高分解能デルタ-シグマADC データシート (Rev. B 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.B) PDF | HTML 2019年 1月 25日
* 放射線と信頼性レポート Single-Event Effects Characterization of TI ADS1282-SP High-Resolution ADC (Rev. A) PDF | HTML 2025年 4月 23日
* 放射線と信頼性レポート ADS1282-SP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. A) 2022年 5月 17日
* SMD ADS1282-SP SMD 5962-14231 2016年 7月 8日
アプリケーション概要 QML 製品に対する DLA 承認済みの最適化内容 (Rev. C 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.C) PDF | HTML 2025年 8月 18日
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ユーザー・ガイド 使用した直列 RTD 温度センシングのリファレンス・デザイン PDF | HTML 英語版 PDF | HTML 2022年 8月 19日
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e-Book(PDF) Fundamentals of Precision ADC Noise Analysis (Rev. A) 2020年 6月 19日
EVM ユーザー ガイド (英語) ADS1282-SP Evaluation Module 2016年 7月 19日
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ユーザー・ガイド ADS1282-SP Overview User’s Guide 2016年 6月 23日
ユーザー・ガイド MSP430FR5969 Launchpad Firmware Flashing Guide for ADS1282-SP 2016年 6月 15日
アプリケーション・ノート 高速データ変換 英語版 2009年 12月 11日
アプリケーション・ノート データ収集と A/D 変換の原理 最新英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2009年 8月 5日
アプリケーション・ノート データ・コンバータのドリフトに関する設計者の必須知識: 最悪劣化度の構成要素を理解して仕様の条件を減らす 2009年 4月 22日
アプリケーション・ノート アナログ・デジタルの仕様とパフォーマンス特性の用語集 (Rev. A 翻訳版) 最新英語版 (Rev.B) 2008年 1月 18日

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

ADS1282EVM-CVAL — ADS1282-SP 耐放射線特性の評価基板

ADS1282-SP EVM という小型評価キットを使用して、耐放射線特性、超高性能のデュアルチャネル ADC である ADS1282-SP を評価できます。ADS1282-SP EVMは MSP430FR5959 ローンチパッド(ADS1282-SP EVMには付属していません)に直接接続でき、USB 経由で PC に接続できます。ソフトウェア GUI を使用して、完全な評価が可能です。また、この評価基板(EVM)は、TPS7A4501-SP を採用し、放射線耐性保証を実施した低ドロップアウト電圧レギュレータも提示します。

ユーザー ガイド: PDF
開発キット

MSP-EXP430FR5969 — MSP430FR5969 LaunchPad™ 開発キット

MSP-EXP430FR5969 LaunchPad 開発キットは、MSP430FR5969 マイコン向けの使いやすいマイコン開発ボードです。プログラミング、デバッグ、電力測定を行うためのオンボード エミュレーションなど、MSP430FRxx FRAM プラットフォームの迅速な開発に必要なすべての機能を備えています。このボードは、シンプルなユーザー インターフェイスを統合するための複数のオンボード ボタンと複数の LED、および外部電源なしでスタンドアロン アプリケーションを実現するスーパーキャパシタ (SuperCap) を搭載しています。MSP430FR5969 (...)

ユーザー ガイド: PDF
ファームウェア

SBAC149 MSP430FR5969 Launchpad Firmware Source for ADS1282-SP

サポート対象の製品とハードウェア

サポート対象の製品とハードウェア

評価基板 (EVM) 向けの GUI

SBAC150 ADS1282-SP EVM GUI Software

サポート対象の製品とハードウェア

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サポート・ソフトウェア

SBAC300 ADS1282 Example C Code

サポート対象の製品とハードウェア

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シミュレーション・モデル

ADS1282-SP IBIS MODEL

SLAM283.ZIP (80 KB) - IBIS Model
計算ツール

ANALOG-ENGINEER-CALC PC software analog engineer's calculator

The analog engineer’s calculator is designed to speed up many of the repetitive calculations that analog circuit design engineers use on a regular basis. This PC-based tool provides a graphical interface with a list of various common calculations ranging from setting operational-amplifier (...)

サポート対象の製品とハードウェア

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設計ツール

ADC-DAC-TO-VREF-SELECT-DESIGN-TOOL The ADC-TO-VREF-SELECT tool enables the pairing of TI ADCs, DACs, and series voltage references.

The ADC-TO-VREF-SELECT tool enables the pairing of TI analog-to-digital converters (ADCs) and series voltage references. Users can select an ADC device and the desired reference voltage, and the tool will list up to two voltage reference recommendations.
サポート対象の製品とハードウェア

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シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI を使用すると、内蔵のライブラリを使用して、複雑なミックスド (...)
シミュレーション・ツール

TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

ユーザー ガイド: PDF
英語版 (Rev.A): PDF
リファレンス・デザイン

TIDA-060042 — シリーズ (直列) RTD (抵抗性温度ディテクタ) センシングのリファレンス デザイン

TIDA-060042 リファレンス デザインは、ADS1282EVM-PDK を使用した、宇宙グレードの包括的なレシオメトリック温度センシング回路を提示します。この回路は、バッファを使用せずに、最大 10 箇所の温度を測定します。宇宙アプリケーションの大半は、この複数箇所回路を活用して複数のサブシステムで温度を測定する機能を必要とします。
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CFP (HKV) 28 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブ拠点
  • アセンブリ拠点

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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