SN55LVTA4-SEP
- ベンダー品目の図面利用可能
- 総吸収線量（TID）特性：30krad（Si）
- ウェハー ロットごとに 30krad (Si) までの累積線量耐性放射線ロット受け入れ試験 (TID RLAT)
- シングル イベント効果 (SEE) 特性：
- シングル イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：線エネルギー付与 (LET) = 50MeV-cm2/mg
- シングル イベント過渡 (SET) 特性：43MeV-cm2/mg。
- ANSI TIA/EIA-644 標準の要件を満たす、または超える性能
- 低電圧差動信号処理で、標準出力電圧は 350mV、負荷は 100Ω です
- 標準出力電圧の立ち上がり/立ち下がり時間は 500ps (400Mbps) です
- 伝搬遅延時間の標準値は 1.7ns です
- 3.3V 単一電源で動作
- ドライバごとに 200MHz で標準 25mW の消費電力
- ディセーブル時、または VCC = 0 の場合、ドライバは高インピーダンス
- 8kV を超えるバス端子 ESD 保護
- 低電圧 TTL (LVTTL) ロジック入力レベル
- 冗長性を必要とする宇宙および高信頼性アプリケーション用のコールド スペアリング
- 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
- 管理されたベースライン
- 金 ワイヤ、NiPdAu リード仕上げ
- 1 つのアセンブリ / テスト拠点と 1 つの製造拠点
- 長期にわたる製品ライフ サイクル
- 軍用温度範囲：-55℃～125℃
- 製品のトレーサビリティ
- NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
SN55LVTA4-SEPは、3.3V 電源を使用した低電圧差動信号 (LVDS) の電気的特性を実装した差動ラインドライバです。このデバイスは、イネーブル時に 100Ω の負荷に対して 247mV の最小差動出力電圧振幅を供給します。
このデバイスと信号処理手法の意図するアプリケーションは、約 100Ω の制御インピーダンス メディアを介した、ポイント ツー ポイントおよびマルチドロップ (1 つのドライバと複数のレシーバ) データ転送の両方です。伝送媒体にはプリント基板のトレース、バックプレーン、ケーブルを使用できます。データ転送の最高速度および最大距離は、メディアの減衰特性と周囲からのノイズに依存します。
SN55LVTA4-SEP は、-55℃～125℃の温度範囲の動作で特徴づけられています。
技術資料
| 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | SN55LVTA4-SEP 耐放射線特性クワッド チャネル高速差動ライン ドライバ データシート | PDF | HTML | 最新英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2025年 4月 25日 |
| * | 放射線と信頼性レポート | SN55LVTA4-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report | PDF | HTML | 2025年 6月 23日 | ||
| * | 放射線と信頼性レポート | SN55LVTA4-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report | PDF | HTML | 2025年 6月 23日 | ||
| * | 放射線と信頼性レポート | SN55LVTA4-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2025年 6月 3日 | ||
| セレクション・ガイド | TI Space Products (Rev. K) | 2025年 4月 4日 |
設計および開発
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SN65LVDS31-33EVM — 評価モジュール、SN65LVDS31/SN65LVDS33 用
TI offers a series of low-voltage differential signaling (LVDS) evaluation modules (EVMs) designed for analysis of the electrical characteristics of LVDS drivers and receivers. Four unique EVMs are available to evaluate the different classes of LVDS devices offered by TI.
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TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム
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TINA は DesignSoft (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| SOIC (D) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。