データシート
UCC27201A
- ハイサイドおよびローサイド構成の 2 つの N チャネル MOSFET を駆動
- HS の負電圧 (–18V)
- 最大ブート電圧:120V
- 最大 VDD 電圧:20V
- オンチップ 0.65V VF、0.65Ω RD ブートストラップ ダイオード
- 伝搬遅延時間:22ns
- 3A シンク、3A ソース出力電流
- 立ち上がり時間 8ns、立ち下がり時間 7ns (1000pF 負荷時)
- 遅延マッチング:1ns
- ハイサイドおよびローサイド ドライバに対する低電圧誤動作防止機能
- -40℃~150℃で動作が規定
UCC2720xA ファミリの高周波 N チャネル MOSFET ドライバは、120V のブートストラップ ダイオードと、それぞれ独立した入力を持つハイサイド / ローサイド ドライバを搭載し、制御の柔軟性を最大限に高めています。これにより、ハーフブリッジ、フルブリッジ、2スイッチ フォワード、およびアクティブ クランプ フォワードのコンバータで、NチャネルMOSFET制御が可能です。ローサイドとハイサイドのゲート ドライバが独立して制御され、それぞれのオン / オフ間に 1ns でマッチングが行われます。ノイズの多い電源環境での性能を向上させるために、UCC2720xAでは入力構造のESD耐性が強化され、また、HSピンは最大–18Vの負電圧に耐えることができます。
ブートストラップ ダイオードを内蔵しているため、外部にディスクリート ダイオードが不要です。ハイサイド ドライバとローサイド ドライバの両方に低電圧誤動作防止機能が搭載され、駆動電圧が規定のスレッショルド未満の場合は出力が強制的にLowになります。
UCC2720xAには、2つのバージョンが用意されています。UCC27200Aはノイズ耐性の高いCMOS入力スレッショルドを備え、UCC27201AはTTL互換のスレッショルドを備えています。
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技術資料
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評価ボード
UCC27201AEVM-328 — UCC27201A 電力段付き評価基板
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評価ボード
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ユーザー ガイド: PDF
シミュレーション・モデル
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シミュレーション・モデル
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SLUM114A.TSC (193 KB) - TINA-TI Reference Design
シミュレーション・モデル
UCC27201 and UCC27201A TINA-TI Transient Spice Model (Rev. A)
SLUM113A.ZIP (30 KB) - TINA-TI Spice Model
シミュレーション・モデル
UCC27201 and UCC27201A Unencrypted PSpice Transient Model
SLUM502.ZIP (4 KB) - PSpice Model
計算ツール
シミュレーション・ツール
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PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。
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リファレンス・デザイン
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TIDA–00653 は、UCD3138 デジタル電源コントローラを使用して実現された、48V バッテリ アプリケーション向けの非絶縁型 48V → 12V 双方向コンバータのリファレンス デザインです。この設計は、軽負荷時の効率を最適化するための ZVS遷移モード トポロジと、シンプルなシステム設計に適したハードスイッチング トポロジのいずれでも動作可能な柔軟性を備えています。この双方向コンバータは、96%を超える効率向上を実現するために、自動フェーズ (...)
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
HSOIC (DDA) | 8 | Ultra Librarian |
SOIC (D) | 8 | Ultra Librarian |
VSON (DRC) | 9 | Ultra Librarian |
VSON (DRM) | 8 | Ultra Librarian |
WSON (DPR) | 10 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。