データシート
TPS28226
- 2個のNチャネルMOSFETを14nsの適応型デッド・タイムで駆動
- 広いゲート駆動電圧範囲:4.5V~8.8V(7V~8Vで最大効率)
- 広いパワー・システム・トレーン入力電圧範囲:3V~27V
- 広い入力PWM信号範囲:振幅2.0V~13.2V
- 1相あたり40A以上の電流でMOSFETを駆動可能
- 高周波動作:伝播遅延14nsおよび立ち上がり/立ち下がり時間10nsにより、FSW=2MHzでの動作が可能
- 30ns未満の入力PWMパルスを伝播可能
- ローサイド・ドライバのシンク・オン抵抗(0.4Ω)により、dV/dTに起因する貫通電流を防止
- 3ステートPWM入力による電源段のシャットダウン
- イネーブル(入力)信号とパワー・グッド(出力)信号を同じピンに割り当てることでスペースを節約
- サーマル・シャットダウン
- UVLO保護
- 内部ブートストラップ・ダイオード
- 低価格のSOIC-8パッケージ、および熱特性強化型の3mm×3mm DFN-8パッケージ
- 一般的な3ステート入力ドライバを高性能で置き換え可能
アプリケーション
- アナログまたはデジタル制御の多相DC-DCコンバータ
- デスクトップ/サーバーVRMおよびEVRD
- ポータブルおよびノートブック用レギュレータ
- 絶縁型電源の同期整流
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TPS28226は、適応型デッド・タイム制御機能を備えた、Nチャネル相補型パワーMOSFET用の高速ドライバです。さまざまな種類の1相および多相の高電流DC-DCコンバータとともに使用できるよう最適化されています。TPS28226は、高効率、小サイズ、低EMIの設計を実現するソリューションです。
この効率は、最大8.8Vのゲート駆動電圧、14nsの適応型デッド・タイム制御、14nsの伝播遅延、および2Aソース、4Aシンクの高電流駆動能力によって実現されています。ローサイド・ゲート・ドライバの0.4ΩのインピーダンスによってパワーMOSFETのゲートをスレッショルド未満に保持し、高いdV/dtでノードが遷移した場合でも貫通電流が生じないようにしています。内部ダイオードによって充電されるブートストラップ・コンデンサにより、NチャネルMOSFETをハーフブリッジ構成で使用することができます。
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技術資料
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9 をすべて表示 | 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TPS28226 、高周波、4Aシンク、同期MOSFETドライバ データシート (Rev. A 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2016年 4月 1日 |
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| セレクション・ガイド | 電源 IC セレクション・ガイド 2018 (Rev. R 翻訳版) | 英語版 (Rev.R) | 2018年 9月 13日 | |||
| その他の技術資料 | Power Loss Calculation for Sync Buck Converter | 2007年 2月 14日 |
設計および開発
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シミュレーション・ツール
PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション ツール向け PSpice®
PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI を使用すると、内蔵のライブラリを使用して、複雑なミックスド (...)
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI を使用すると、内蔵のライブラリを使用して、複雑なミックスド (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| SOIC (D) | 8 | Ultra Librarian |
| VSON (DRB) | 8 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。