TLC27L4
- Input offset voltage drift: typically 0.1µV/month, including the first 30 days
- Wide range of supply voltages over specified temperature range:
- 0°C to 70°C: 3V to 16V
- –40°C to +85°C: 4V to 16V
- Single-supply operation
- Common-mode input voltage range extends below the negative rail (C-suffix, I-suffix types)
- Ultra-low power: 195µW at 25°C (typica), VDD = 5V
- Output voltage range includes negative rail
- High input impedance: 1012Ω (typical)
- ESD-protection circuitry
- Small-outline package option also available in tape and reel
- Designed-in latch-up immunity
The TLC27L4x and TLC27L9 quad op amps combine a wide range of input offset-voltage grades with low offset-voltage drift, high input impedance, extremely low power, and high gain. The TLC27Lx use TI’s silicon-gate LinCMOS™ technology, providing offset-voltage stability far exceeding the stability with conventional metal-gate processes.
Four offset voltage grades are available (C-suffix and I-suffix), ranging from the low-cost TLC27L4 (10mV) to the high-precision TLC27L9 (1000µV). The extremely high input impedance and low bias currents, along with good common-mode rejection and supply-voltage rejection, and low power consumption, make the TLC27Lx a good choice for new state-of-the-art designs and upgrading existing designs.
In general, many features associated with bipolar technology are available in LinCMOS op amps, without the power penalties of bipolar technology. General applications, such as transducer interfacing, analog calculations, amplifier blocks, active filters, and signal buffering, are all easily designed with the TLC27Lx. The devices also exhibit low-voltage, single-supply operation, making the TLC27Lx an excellent choice for remote and inaccessible battery-powered applications. The common-mode input-voltage range includes the negative rail.
The TLC27Lx incorporate internal ESD-protection circuits that prevent functional failures at voltages up to 2000V as tested under MIL-STD-883C, Method 3015.2. Exercise care when handling these devices because exposure to ESD potentially degrades device parametric performance.
C-suffix devices are characterized for operation from 0°C to 70°C. I-suffix devices are characterized for operation from –40°C to +85°C.
技術資料
| 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TLC27Lx Precision, Quad Operational Amplifiers データシート (Rev. E) | PDF | HTML | 2025年 7月 31日 | ||
| e-Book（PDF） | The Signal - オペアンプ設計ブログ集 | 英語版 | 2018年 3月 23日 |
設計および開発
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| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| PDIP (N) | 14 | Ultra Librarian |
| SOIC (D) | 14 | Ultra Librarian |
| SOP (NS) | 14 | Ultra Librarian |
| TSSOP (PW) | 14 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
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- 継続的な信頼性モニタ試験結果
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- 組み立てを実施した拠点