データシート
TPS1686
- 動作入力電圧範囲:9V ~ 80V
- 絶対最大電圧 92V
- 出力側で最大 -5V の負電圧に対応
- 低いオン抵抗の FET を内蔵:RON = 16mΩ (標準値)
- アクティブ HIGH のイネーブル入力、低電圧誤動作防止 (UVLO) を設定可能
- 調整可能な過電圧保護機能
- 突入電流からの保護のために出力スルーレート制御 (dVdt) を調整可能
- 高精度な負荷電流監視機能
- 50% を超える電流で3% 未満の誤差
- 1MHz の帯域幅
- 堅牢な過電流保護機能
- サーキットブレーカ応答
- 可変スレッショルド:1A ~ 10A
- 過電流保護の精度:±3% (標準値)
- 可変の過渡過電流タイマ (ITIMER) によりピーク電流をサポート
- 短絡イベントに対する高速トリップ応答
- アナログ ダイ温度監視出力 (TEMP) による過熱保護 (OTP)
- FET SOA:0.8W√s
- FET の健全性監視および報告機能
- フォルト表示ピン (FLT)
- パワー グッド表示ピン (PGOOD)
- UL 2367 認定 (予定)
- IEC 62368-1 CB 認証 (予定)
- 小さい占有面積:QFN 6mm × 5mm
- 60V 対応の IPC9592B クリアランス
TPS1686x は統合型大電流回路保護およびパワー マネージメント デバイスです。このデバイスは、非常に少数の外付け部品で複数の保護モードを提供し、過負荷、短絡、および過剰な突入電流に対して堅牢な保護を行います。特定の突入電流要件を持つアプリケーションでは、単一の外付けコンデンサにより出力スルー レートを設定できます。出力電流制限レベルは、システムの必要に応じてユーザーが設定できます。ユーザーが調整可能な過電流ブランキング タイマを使用すると、システムは eFuse をトリップせずに、負荷電流の過渡ピークに対応できます。高速で高精度の検出を行う内蔵のアナログ負荷電流モニタにより、予知保全と高度な動的プラットフォーム電力管理 (Intel PSYS、PROCHOT など) が容易になり、サーバーおよびデータセンターの性能を最適化します。
これらのデバイスは、-40℃~+125℃の接合部温度範囲で動作が規定されています。
技術資料
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
2 をすべて表示 | 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TPS1686x、 9V ~ 80V 、16mΩ、10A 内蔵型ホットスワップ (eFuse)、高精度で高速な電流モニタ搭載 データシート (Rev. A 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2025年 11月 26日 |
| 証明書 | TPS1686-87EVM EU Declaration of Conformity (DoC) | 2025年 6月 9日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
シミュレーション・ツール
PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション ツール向け PSpice®
PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI を使用すると、内蔵のライブラリを使用して、複雑なミックスド (...)
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI を使用すると、内蔵のライブラリを使用して、複雑なミックスド (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| VQFN (NLM) | 23 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。