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TLE2144AM

アクティブ

高速、高駆動能力の高精度クワッド・オペアンプ

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open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン互換製品
LM148QML アクティブ ミリタリー グレード、クワッド、36V、900kHz オペアンプ Low power (0.6 mA)

製品詳細

Number of channels 4 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (max) (V) 44 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (min) (V) 4 Rail-to-rail In to V- GBW (typ) (MHz) 6 Slew rate (typ) (V/µs) 45 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 1.5 Iq per channel (typ) (mA) 3.45 Vn at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 10.5 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125 Offset drift (typ) (µV/°C) 1.7 Features High Cload Drive Input bias current (max) (pA) 1500000 CMRR (typ) (dB) 108 Iout (typ) (A) 0.031 Architecture Bipolar Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) -0.3 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -1.8 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 0.1 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -0.8
Number of channels 4 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (max) (V) 44 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (min) (V) 4 Rail-to-rail In to V- GBW (typ) (MHz) 6 Slew rate (typ) (V/µs) 45 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 1.5 Iq per channel (typ) (mA) 3.45 Vn at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 10.5 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125 Offset drift (typ) (µV/°C) 1.7 Features High Cload Drive Input bias current (max) (pA) 1500000 CMRR (typ) (dB) 108 Iout (typ) (A) 0.031 Architecture Bipolar Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) -0.3 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -1.8 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 0.1 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -0.8
CDIP (J) 14 130.4652 mm² 19.56 x 6.67 LCCC (FK) 20 79.0321 mm² 8.89 x 8.89
  • 低ノイズ
    • 10Hz..15nV/√ Hz
    • 1kHz..10.5nV/√ Hz
  • 負荷能力:10000pF
  • 短絡出力電流:20mA (最小値)
  • スルーレート:27V/µs (最小値)
  • 高ゲイン帯域幅積:5.9MHz
  • Low V IO:25℃ で最大 500µV
  • 単一電源または分割電源:4V ~ 44V
  • 高速なセトリング タイム:
    • 340ns + 0.1%
    • 400ns + 0.01%
  • 飽和回復:150ns
  • 大きい出力スイング:
    • VCC− + 0.1V~Vcc+-1V
  • 低ノイズ
    • 10Hz..15nV/√ Hz
    • 1kHz..10.5nV/√ Hz
  • 負荷能力:10000pF
  • 短絡出力電流:20mA (最小値)
  • スルーレート:27V/µs (最小値)
  • 高ゲイン帯域幅積:5.9MHz
  • Low V IO:25℃ で最大 500µV
  • 単一電源または分割電源:4V ~ 44V
  • 高速なセトリング タイム:
    • 340ns + 0.1%
    • 400ns + 0.01%
  • 飽和回復:150ns
  • 大きい出力スイング:
    • VCC− + 0.1V~Vcc+-1V

TLE214xおよびTLE214xAデバイスは、テキサス・インスツルメンツの相補型バイポーラExcaliburプロセスを使用して製造された高性能の内部補償型オペアンプです。TLE214xA は、TLE214x のオフセット電圧グレードがさらに厳格化された製品です。どちらも、業界標準製品とのピン互換性のあるアップグレード製品です。

設計には、入力段に低オーディオ帯域ノイズ(10.5nV/√Hz)と 10Hz 1/f コーナーを同時に実現し、800pF までの負荷に対して典型的な対称 40V/µs スルーレートを特徴とする回路が組み込まれています。これにより、高忠実度オーディオアプリケーションにおいて重要な低歪みと大電力 帯域幅を実現します。2kΩ/ 100pF負荷で430nsから10Vステップの0.1%までの短いセトリングタイムは、高速アクチュエータ/位置決めドライバに役立ちます。同様のテスト条件では、0.01%までのセトリングタイムは640nsです。

どちらのバージョンもコンパレータとしても使用できます。V CC±の差動入力は、本デバイスを損傷せずに維持できます。TTL電源レベルでの開ループ伝搬遅延は通常200nsです。これにより、デバイスが推奨出力スイングの制限を超えて駆動された場合の出力段の飽和回復の目安となります。

TLE214xとTLE214xAはいずれも、業界標準の8ピ小型ンアウトラインバージョンと高密度システムアプリケーション向けチップフォームの両方を含む広範なパッケージで供給されます。C接尾辞デバイスは0℃~70℃の動作温度範囲で特性評価されており、I接尾辞デバイスは−40℃~105℃、M接尾辞デバイスは軍事用温度範囲の−55℃~125℃の全範囲で動作可能です。

TLE214xおよびTLE214xAデバイスは、テキサス・インスツルメンツの相補型バイポーラExcaliburプロセスを使用して製造された高性能の内部補償型オペアンプです。TLE214xA は、TLE214x のオフセット電圧グレードがさらに厳格化された製品です。どちらも、業界標準製品とのピン互換性のあるアップグレード製品です。

設計には、入力段に低オーディオ帯域ノイズ(10.5nV/√Hz)と 10Hz 1/f コーナーを同時に実現し、800pF までの負荷に対して典型的な対称 40V/µs スルーレートを特徴とする回路が組み込まれています。これにより、高忠実度オーディオアプリケーションにおいて重要な低歪みと大電力 帯域幅を実現します。2kΩ/ 100pF負荷で430nsから10Vステップの0.1%までの短いセトリングタイムは、高速アクチュエータ/位置決めドライバに役立ちます。同様のテスト条件では、0.01%までのセトリングタイムは640nsです。

どちらのバージョンもコンパレータとしても使用できます。V CC±の差動入力は、本デバイスを損傷せずに維持できます。TTL電源レベルでの開ループ伝搬遅延は通常200nsです。これにより、デバイスが推奨出力スイングの制限を超えて駆動された場合の出力段の飽和回復の目安となります。

TLE214xとTLE214xAはいずれも、業界標準の8ピ小型ンアウトラインバージョンと高密度システムアプリケーション向けチップフォームの両方を含む広範なパッケージで供給されます。C接尾辞デバイスは0℃~70℃の動作温度範囲で特性評価されており、I接尾辞デバイスは−40℃~105℃、M接尾辞デバイスは軍事用温度範囲の−55℃~125℃の全範囲で動作可能です。

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技術資料

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* データシート Excalibur、低ノイズ、高速、高精度、オペアンプ データシート (Rev. E 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.E) PDF | HTML 2025年 9月 25日

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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