LMG3527R030
- ゲート ドライバ内蔵の 650 650V GaN オン Si FET
- 高精度のゲート バイアス電圧を内蔵
- FET ホールド オフ:200V/ns
- 2MHz のスイッチング周波数
- 20V/ns~150V/ns のスルーレートによるスイッチング性能の最適化と EMI の軽減
- 7.5V~18V 電源で動作
- 堅牢な保護
- サイクル単位の過電流保護と 100ns 未満の応答時間を持つラッチ付き短絡保護
- ハード スイッチング中のサージ耐性:720V
- 内部過熱および UVLO 監視機能による自己保護
- 高度なパワー マネージメント
- デジタル温度 PWM 出力
- LMG3526R030 は、ソフト スイッチング コンバータを容易にするゼロ電圧検出機能を装備
- LMG3527R030 は、ソフト スイッチング コンバータを容易にするゼロ電流検出 (ZCD) 機能を装備
- 上面から放熱する 12mm × 12mm の VQFN パッケージにより、電気的経路と熱的経路を分離することで電力ループのインダクタンスを最小化
統合型ドライバと保護機能を搭載した LMG352xR030 GaN FET は、スイッチ モード パワー コンバータを対象としています。このデバイスを使うと、設計者は新しいレベルの電力密度と効率を実現できます。
LMG352xR030 は、最大 150V/ns のスイッチング速度を実現できるシリコン ドライバを内蔵しています。テキサス・インスツルメンツの統合型高精度ゲート バイアスは、ディスクリート シリコン ゲート ドライバと比較して、より広いスイッチング SOA をもたらします。この統合と テキサス・インスツルメンツの低インダクタンス パッケージの組み合わせにより、ハード スイッチング電源トポロジでもノイズの少ないスイッチングとリンギングの最小化を実現できます。調整可能なゲート ドライブ強度により、20V/ns~150V/ns のスルーレートの制御が可能で、EMI のアクティブ制御とスイッチング性能の最適化に使用できます。LMG3526R030 は、ゼロ電圧検出 (ZVD) 機能を備えており、ゼロ電圧スイッチングが発生したとき ZVD ピンからパルスを出力します。は、LMG3527R030 ゼロ電流検出 (ZCD) 機能を備えており、正のドレイン-ソース間電流が検出されたときに ZCD ピンからパルスを出力します。
先進的な電源管理機能として、デジタル温度レポート、フォルト検出を備えています。GaN FET の温度は可変デューティ サイクル PWM 出力により通知されるため、デバイスの負荷の管理が簡単になります。報告される障害には、過電流、短絡、過熱、VDD UVLO、高インピーダンス RDRV ピンがあります。
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | LMG352xR030 650 V 30 mΩ GaN FET、統合型ドライバと保護機能および温度レポート機能搭載 データシート (Rev. B 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2025年 6月 12日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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VQFN (RQS) | 52 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点