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eFuse (統合型ホットスワップ)

TPS7H2140-SEP

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耐放射線特性、4.5V ～ 32V 入力、1.35A、160mΩ、クワッドチャネル eFuse

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TPS7H2140-SEP

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製品詳細

Vin (max) (V) 32 Vin (min) (V) 4.5 Current limit (max) (A) 7 Current limit (min) (A) 0.25 Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Ron (typ) (mΩ) 160 Rating Space Soft start Fixed Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062 Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125
Vin (max) (V) 32 Vin (min) (V) 4.5 Current limit (max) (A) 7 Current limit (min) (A) 0.25 Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Ron (typ) (mΩ) 160 Rating Space Soft start Fixed Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062 Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125
HTSSOP (PWP) 28 62.08 mm² 9.7 x 6.4
  • VID (Vendor Item Drawing) VID V62/23610 が利用可能
  • 累積線量 (TID) 特性評価：30krad(Si)
    • 放射線ロット受け入れ試験 (RLAT) 特性評価：20krad(Si)
  • シングルイベント効果 (SEE) の特性評価
    • シングルイベント・ラッチアップ (SEL)、シングルイベント・バーンアウト (SEB)、シングルイベント・ゲート・ラプチャー (SEGR) における、43MeV-cm 2/mg の線エネルギー付与 (LET) に対する耐性
    • シングルイベント過渡 (SET) およびシングルイベント機能割り込み (SEF) 特性評価： 43MeV-cm 2/mg の実効線エネルギー付与 (LET)
  • 包括的な診断機能と電流センス・アナログ出力を搭載した、クワッド・チャネル 160mΩ eFuse
  • 広い動作電圧範囲：4.5V～32V
  • 非常に低いスタンバイ時電流：500nA 未満
  • 高精度の電流センス： I LOAD ≥ 25mA のとき ±15%
  • 電流制限は外付け抵抗 (R CL) により調整可能で、I LOAD ≥ 500mA のとき ±15% の精度を実現
  • 保護
    • 電流制限 (内部または外部) による GND への短絡保護
    • ラッチオフ・オプションおよびサーマル・スイング付きのサーマル・シャットダウン機能
    • スルーレートが最適化された、誘導性負荷の負電圧クランプ
    • GND 損失および電力損失保護
  • 診断
    • 過電流およびグランドへの短絡の検出
    • 開放負荷と電源への短絡の検出
    • グローバル・フォルト・レポートによる高速割り込み
  • 熱特性強化型 28 ピン PWP パッケージ
  • 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
  • 軍事用温度範囲 (-55℃～125℃) に対応
  • VID (Vendor Item Drawing) VID V62/23610 が利用可能
  • 累積線量 (TID) 特性評価：30krad(Si)
    • 放射線ロット受け入れ試験 (RLAT) 特性評価：20krad(Si)
  • シングルイベント効果 (SEE) の特性評価
    • シングルイベント・ラッチアップ (SEL)、シングルイベント・バーンアウト (SEB)、シングルイベント・ゲート・ラプチャー (SEGR) における、43MeV-cm 2/mg の線エネルギー付与 (LET) に対する耐性
    • シングルイベント過渡 (SET) およびシングルイベント機能割り込み (SEF) 特性評価： 43MeV-cm 2/mg の実効線エネルギー付与 (LET)
  • 包括的な診断機能と電流センス・アナログ出力を搭載した、クワッド・チャネル 160mΩ eFuse
  • 広い動作電圧範囲：4.5V～32V
  • 非常に低いスタンバイ時電流：500nA 未満
  • 高精度の電流センス： I LOAD ≥ 25mA のとき ±15%
  • 電流制限は外付け抵抗 (R CL) により調整可能で、I LOAD ≥ 500mA のとき ±15% の精度を実現
  • 保護
    • 電流制限 (内部または外部) による GND への短絡保護
    • ラッチオフ・オプションおよびサーマル・スイング付きのサーマル・シャットダウン機能
    • スルーレートが最適化された、誘導性負荷の負電圧クランプ
    • GND 損失および電力損失保護
  • 診断
    • 過電流およびグランドへの短絡の検出
    • 開放負荷と電源への短絡の検出
    • グローバル・フォルト・レポートによる高速割り込み
  • 熱特性強化型 28 ピン PWP パッケージ
  • 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
  • 軍事用温度範囲 (-55℃～125℃) に対応

TPS7H2140-SEP デバイスは、完全に保護されたクワッド・チャネル eFuse で、160mΩ の NMOS パワー FET が 4 つ内蔵されています。

包括的な診断機能と高精度の電流検出によって、インテリジェントな負荷制御が可能です。

電流制限を外部で変更可能なため、突入電流や過負荷電流を制限し、システム全体の信頼性を向上できます。

TPS7H2140-SEP デバイスは、完全に保護されたクワッド・チャネル eFuse で、160mΩ の NMOS パワー FET が 4 つ内蔵されています。

包括的な診断機能と高精度の電流検出によって、インテリジェントな負荷制御が可能です。

電流制限を外部で変更可能なため、突入電流や過負荷電流を制限し、システム全体の信頼性を向上できます。
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート TPS7H2140-SEP 耐放射線性、32V、160mΩ、クワッドチャネル eFuse データシート (Rev. A 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2023年 10月 31日
* VID TPS7H2140-SEP VID V62-23610 2024年 5月 1日
* 放射線と信頼性レポート TPS7H2140-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) PDF | HTML 2023年 11月 6日
* 放射線と信頼性レポート TPS7H2140-SEP Neutron Displacement (NDD) Characterization Report PDF | HTML 2023年 10月 10日
* 放射線と信頼性レポート TPS7H2140-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 2023年 10月 9日
* 放射線と信頼性レポート TPS7H2140-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2023年 10月 4日
ホワイト・ペーパー Designing Space Systems With Integrated FDIR: A Guide to TI's Space-Grade Components PDF | HTML 2025年 7月 12日
セレクション・ガイド TI Space Products (Rev. K) 2025年 4月 4日
EVM ユーザー ガイド (英語) TPS7H2140EVM, TPS7H2140-SEP Evaluation Module User's Guide (Rev. A) PDF | HTML 2023年 8月 18日
証明書 TPS7H2140EVM EU Declaration of Conformity (DoC) 2023年 7月 24日
アプリケーション・ノート Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) PDF | HTML 2022年 9月 15日
e-Book（PDF） Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 2019年 5月 21日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

TPS7H2140EVM — TPS7H2140-SEP 耐放射線特性、プラスチック、クワッドチャネル eFuse の評価基板

TPS7H2140-SEP 評価基板は、クワッドチャネル eFuse の動作を提示します。このボードは複数のパラレル出力チャネルをテストする構成になっています。複数の出力チャネルを分割するようにカスタマイズすることや、デバイスの他の機能をカスタマイズすることができます。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
シミュレーション・モデル

TPS7H2140-SEP PSpice Transient Model

SLVME15.ZIP (38 KB) - PSpice Model
ダウンロード
シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI を使用すると、内蔵のライブラリを使用して、複雑なミックスド (...)
リクエスト
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
HTSSOP (PWP) 28 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

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