ESD401
- 稳健的 IEC 61000-4-2 4 级 ESD 保护：
- ±24kV 接触放电
- ±30kV 空气间隙放电
- IEC 61000-4-5 浪涌保护：
- 4.5A (8/20µs)
- 1.8A IPP (8/20µs) 时，具有 12V 的低 Vclamp
- IEC 61000-4-4 EFT 保护：
- 80A (5/50ns)
- 具有双向 ESD 二极管，可在高达 ± 5.5V 的电压下保护接口
- IO 电容：0.77pF（典型值）
- 直流击穿电压高：8.3V（典型值）
- 超低漏电流：30pA（典型值）
- 低动态电阻：0.7Ω（典型值）
- 工业级温度范围：-40°C 至 +125°C
- 业界通用 0402 封装
ESD401 是一款双向 TVS ESD 保护二极管，具有低 RDYN 和低钳位电压。ESD401 的额定 ESD 冲击消散值超出了 IEC 61000-4-2 国际标准（4 级）规定的最高水平。低动态电阻 (0.7Ω) 可确保系统级抗瞬变事件保护。该器件具有一个 0.77pF IO 电容，非常适合用于保护 USB 2.0 等接口。该器件可在高达 ±5.5V 的电压运行，具有超低漏电流，并能承受高达 8.3V 的直流故障。
ESD401 采用业界通用的 0402 (DPY) 封装。
技术文档
未找到结果。请清除搜索并重试。
查看全部 7 | 类型 | 标题 | 下载最新的英语版本 | 日期 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 数据表 | ESD401 具有稳健 IEC ESD 性能的单通道 ESD 保护二极管 数据表 (Rev. B) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2024年 8月 30日 |
| 应用手册 | 用于 USB 接口的 ESD 和浪涌保护 (Rev. B) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2024年 1月 23日 | |
| 应用手册 | ESD 包装和布局指南 (Rev. B) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2022年 9月 14日 | |
| 选择指南 | System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) | 2022年 9月 7日 | ||||
| 应用手册 | ESD 保护布局指南 (Rev. A) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2022年 7月 25日 | |
| 用户指南 | Generic ESD Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2021年 9月 27日 | |||
| 应用手册 | Does BAV99 Really Protect My System from ESD? | 2017年 5月 24日 |
设计和开发
如需其他信息或资源，请点击以下任一标题进入详情页面查看（如有）。
评估板
ESDEVM — ESD 评估模块
静电敏感器件 (ESD) 评估模块 (EVM) 是用于 TI 大部分 ESD 产品系列的开发平台。为了测试任何型号的器件，该电路板支持所有传统的 ESD 封装结构。器件可以焊接到相应封装结构，然后进行测试。如果是典型的高速 ESD 二极管，则应采用阻抗受控布局来获取 S 参数并剥离电路板引线。如果是非高速 ESD 二极管，则应采用有布线连接到测试点的封装结构，以便轻松运行直流测试，例如击穿电压、保持电压、漏电流等。该电路板布局布线还可以通过将信号引脚短接至信号所在的位置，轻松地将任何器件引脚连接到电源 (VCC) 或地。
| 封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
|---|---|---|
| X1SON (DPY) | 2 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息：
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息：
- 制造厂地点
- 封装厂地点
推荐产品可能包含与 TI 此产品相关的参数、评估模块或参考设计。