TPS371K-Q1
- 車載アプリケーション向けに AEC-Q100 認証済み
- デバイス温度グレード 1：-40℃ ～ +125℃
- 機能安全規格準拠を対象とする [プレビュー]
- 機能安全アプリケーション向け開発
- ISO 26262 システムの設計に役立つ資料
- 400V と 800V の BMS と DC リンク向けの過電圧および低電圧障害モニタ
- 1% の過電圧出力と低電圧出力
- システムの障害耐性期間の最小化に役立つ高速検出時間 (5µs 未満)
- 30V ～ 60V、低 UV 出力
- 設計要件を満たすデバイスの柔軟性
- 過電圧と低電圧のスレッショルドはユーザーが選択可能
- ユーザーがプログラム可能なコンデンサ ベースのグリッチ除去およびデアサート遅延
- ADC を監視するためのバッファを内蔵
- 高精度 0.35% (最大値) のセンス ピン電圧を低減
- VSENSE ピンは、高速 ADC 入力を直接駆動できます
- 安全アプリケーション向けに設計 (プレビュー)
- 出力ラッチ機能により、システムを安全な状態に移行
- デバイスの機能を監視し、システム保護を強化するための内蔵セルフ テスト
TPS371KQ1 は、400V と 800V の DC リンク電圧測定に適したバッファ内蔵の電圧監視向け車載スーパーバイザです。TPS371K-Q1 を使用すると、高電圧ラダーを内蔵した大抵抗ラダーを排除できます。このデバイスの SENSE ピンは、400V または 800V の車載用バッテリ システムや DC-Link に直接接続して、過電圧 (OV)、低電圧 (UV)、低電圧 (LUV) の状態を継続的に監視できます。TPS371K-Q1 は、ノイズの多い環境でグリッチ除去をプログラム可能な CTS 機能を提供します。
TPS371K-Q1 には、電源電圧測定用の高速バッファ VSENSE が内蔵されています。このバッファは出力インピーダンスが低く、ADC 入力を直接駆動できます。VSENSE は SENSE ピンの入力電圧をスケール ダウンした値です。
電圧スーパーバイザと内蔵のバッファの組み合わせにより、最小のシグナル チェーン サイズで 400V と 800V のシステムを直接監視できます。この組み合わせにより、冗長なデジタルおよびアナログの常時オン電圧フォルト監視も可能になります。
TPS371K-Q1 デバイスは、12.8mm × 7.4mm SOIC 15 ピン パッケージで供給されます。TPS371K-Q1 は -40℃ ～ +125℃ の TA で動作します。
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
TPS371KEVM — TPS371K 評価基板
TPS371K は、TPS371K-Q1 の各電圧スーパーバイザ ファミリ向けの評価基板 (EVM) です。この評価基板の目的は、サンプルの設計を例示するほか、TPS371K-Q1 デバイスのすべての入力ピンと出力ピンに対応するテスト ポイントを公開し、測定値のキャプチャやデバイスへの習熟を可能にすることです。
PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション ツール向け PSpice®
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI を使用すると、内蔵のライブラリを使用して、複雑なミックスド (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| SSOP (DFX) | 15 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点