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SN74AHCT273-Q1

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Automotive octal D-type flip-flops with clear

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SN74AHCT273-Q1

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製品詳細

Operating temperature range (°C) to Rating Automotive
Operating temperature range (°C) to Rating Automotive
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4 VQFN (RKS) 20 11.25 mm² 4.5 x 2.5 VSSOP (DGS) 20 24.99 mm² 5.1 x 4.9
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C
    • Device HBM ESD classification level 2
    • Device CDM ESD classification level C4B
  • Available in wettable flank QFN package
  • Operating range 4.5V to 5.5V VCC
  • TTL-Compatible inputs
  • Low delay, 7.6ns at 5V, 15pF load
  • Supports 130MHz at 5V, 15pF load
  • Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C
    • Device HBM ESD classification level 2
    • Device CDM ESD classification level C4B
  • Available in wettable flank QFN package
  • Operating range 4.5V to 5.5V VCC
  • TTL-Compatible inputs
  • Low delay, 7.6ns at 5V, 15pF load
  • Supports 130MHz at 5V, 15pF load
  • Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17

The SN74AHCT273-Q1 contains eight positive-edge-triggered D-type flip-flops with a direct active low clear ( CLR) input.

Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the Q outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not related directly to the transition time of the positive-going pulse. When CLK is at either the high or low level, the D input has no effect at the output.

The SN74AHCT273-Q1 contains eight positive-edge-triggered D-type flip-flops with a direct active low clear ( CLR) input.

Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the Q outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not related directly to the transition time of the positive-going pulse. When CLK is at either the high or low level, the D input has no effect at the output.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74AHCT273-Q1 Automotive Octal D-Type Flip-Flops with Clear データシート PDF | HTML 2025年 7月 6日
アプリケーション・ノート 低速またはフローティング CMOS 入力の影響 (Rev. E 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.E) 2025年 5月 21日
セレクション・ガイド Little Logic Guide 2018 (Rev. G) 2018年 7月 6日
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アプリケーション・ノート How to Select Little Logic (Rev. A) 2016年 7月 26日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
製品概要 Design Summary for WCSP Little Logic (Rev. B) 2004年 11月 4日
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アプリケーション・ノート Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
アプリケーション・ノート Advanced High-Speed CMOS (AHC) Logic Family (Rev. C) 2002年 12月 2日
アプリケーション・ノート Texas Instruments Little Logic Application Report 2002年 11月 1日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
設計ガイド AHC/AHCT Designer's Guide February 2000 (Rev. D) 2000年 2月 24日
製品概要 Military Advanced High-Speed CMOS Logic (AHC/AHCT) (Rev. C) 1998年 4月 1日
アプリケーション・ノート Migration From 3.3-V To 2.5-V Power Supplies For Logic Devices 1997年 12月 1日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
評価ボード

14-24-NL-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンのリードなしパッケージ向け、ロジック製品の汎用評価基板

14-24-NL-LOGIC-EVMは、14ピンから24ピンのBQA、BQB、RGY、RSV、RJWまたはRHLパッケージを持つあらゆるロジックまたは変換デバイスをサポートするように設計された柔軟な評価基板（EVM）です。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
VQFN (RKS) 20 Ultra Librarian
VSSOP (DGS) 20 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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