DS320PR410-RSC-EVM
DS320PR410 評価基板
DS320PR410-RSC-EVM
概要
DS320PR410-RSC-EVM は、4 チャネル PCI-Express 5.0 リニア リドライバである DS320PR410 のシグナル コンディショニング機能を評価するための包括的な高帯域幅プラットフォームを実現します。この評価ボードは、標準準拠試験、性能評価、初期のシステム プロトタイプ製作に使用できます。
特長
- PCIe x16 ライザー カード オプションは、最大 32Gbps のレートで動作する 8 個の 4 チャネル単方向リドライバを搭載
- リニア イコライザ機能は、リンク トレーニングと PCIe® チャネル拡張のシームレスなサポートに貢献
- CTLE (連続時間リニア イコライザ) は 16GHz 時に最大 22dB の向上を実現
- EEPROM、GPIO、I²C、SMBus のいずれかを経由してプログラマブルなデバイス構成
PCIe、SAS、SATA IC
購入と開発の開始
評価ボード
DS320PR410-RSC-EVM — DS320PR410 evaluation module
在庫あり
制限:
TI.com で在庫切れ
TI.com で取り扱いなし
DS320PR410-RSC-EVM — DS320PR410 evaluation module
評価基板 (EVM) 向けの GUI
SIGCONARCHITECT3 — Texas Instruments SigCon Architect EVM GUI v3.0.0.14 Setup
サポート対象の製品とハードウェア
製品
PCIe、SAS、SATA IC
イーサネット リタイマ、リドライバ、マルチプレクサ、バッファ
ハードウェア開発
評価ボード
SIGCONARCHITECT3 — Texas Instruments SigCon Architect EVM GUI v3.0.0.14 Setup
製品
PCIe、SAS、SATA IC
イーサネット リタイマ、リドライバ、マルチプレクサ、バッファ
ハードウェア開発
評価ボード
リリース情報
The design resource accessed as www.ti.com/lit/zip/snlc065 or www.ti.com/lit/xx/snlc065b/snlc065b.zip has been migrated to a new user experience at www.ti.com/tool/download/SNLC065. Please update any bookmarks accordingly.
評価基板 (EVM) 向けの GUI
SIGCONARCHITECT3-WRTE — Texas Instruments SigCon Architect EVM GUI v3 Setup with RTE
サポート対象の製品とハードウェア
製品
PCIe、SAS、SATA IC
イーサネット リタイマ、リドライバ、マルチプレクサ、バッファ
ハードウェア開発
評価ボード
SIGCONARCHITECT3-WRTE — Texas Instruments SigCon Architect EVM GUI v3 Setup with RTE
製品
PCIe、SAS、SATA IC
イーサネット リタイマ、リドライバ、マルチプレクサ、バッファ
ハードウェア開発
評価ボード
リリース情報
The design resource accessed as www.ti.com/lit/zip/snlc066 or www.ti.com/lit/xx/snlc066b/snlc066b.zip has been migrated to a new user experience at www.ti.com/tool/download/SNLC066. Please update any bookmarks accordingly.
技術資料
=
TI が選定した主要ドキュメント
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タイプ | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | EVM ユーザー ガイド (英語) | DS320PR410-RSC-EVM Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2024/08/06 | ||
アプリケーション・ノート | How to Configure the DS320PR410 Using SigCon Architect | PDF | HTML | 2024/11/13 | |||
証明書 | DS320PR410-RSC-EVM EU Declaration of Conformity (DoC) | PDF | HTML | 2023/10/11 |