TLE4275-Q1
- AEC-Q100 qualified for automotive applications:
- Temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
- Junction temperature: –40°C to +150°C, TJ
- Input voltage range:
- Legacy chip: 5.5V to 42V (45V absolute max)
- New chip: 3.0V to 40V (42V absolute max)
- Maximum output current:
- Legacy chip: 450mA
- New chip: 500mA
- Output voltage accuracy: ±2.0% (across line, load and temperature)
- Low dropout voltage: 500mV (max) at 300mA
- Low quiescent current:
- Legacy chip: 100µA (typ) at IOUT = 1mA
- New chip: 28µA (typ) at IOUT = 1mA
- Excellent line transient response (new chip):
- ±2% VOUT deviation during cold-crank
- ±2% VOUT deviation (1V/µs VIN slew rate)
- Power-good (reset) with programmable delay period
- Stable with a 2.2µF or larger capacitor (new chip)
- Reverse-polarity protection (legacy chip)
- Overcurrent and overtemperature protection
- Packages:
- 5-pin TO-252 (KVU)
- 5-pin DDPAK/TO-263 (KTT)
- 20-pin HTSSOP (PWP) (legacy chip)
The TLE4275-Q1 is a low-dropout linear regulator designed to connect to the battery in automotive applications. For the new chip, the device has an input voltage range extending to 40V that drives loads up to 500mA. This range allows the device to withstand transients (such as load dumps) that are anticipated in automotive systems. With only a 28µA quiescent current at IOUT = 1mA (new chip), the device is designed for powering always-on components. Microcontrollers (MCUs) and controller area network (CAN) transceivers in standby systems are examples of such components.
The new chip version of the device has state-of-the-art transient response that allows the output to quickly react to changes in load or line (for example, during cold-crank conditions). Additionally, the new chip version has a novel architecture that minimizes output overshoot when recovering from dropout. During normal operation, the device has a tight DC accuracy of ±2.0% over line, load, and temperature (new chip).
The power-good (reset) delay is adjusted by an external capacitor on the delay pin, allowing the delay time to be configured to fit application-specific systems.
The device also incorporates a number of internal circuits for protection against overload and overtemperature. The legacy chip also provides protection against reverse polarity. The legacy chip requires COUT ≥ 22µF with max supported ESR range of ≤ 5Ω and new chip requires COUT ≥ 2.2µF with max supported ESR range of ≤ 2Ω, within the operating temperature range.
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技術資料
| 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TLE4275-Q1 Automotive, 500mA, 40V, Low-Dropout Regulator With Power-Good データシート (Rev. J) | PDF | HTML | 2025年 5月 23日 | ||
| アプリケーション・ノート | LDO Noise Demystified (Rev. B) | PDF | HTML | 2020年 8月 18日 | |||
| その他の技術資料 | 車載用バッテリ直接接続アプリケーションでのLDOを使用した設計の基本 | 英語版 | 2017年 9月 11日 | |||
| アプリケーション・ノート | LDO PSRR Measurement Simplified (Rev. A) | PDF | HTML | 2017年 8月 9日 | |||
| 技術記事 | Discrete SBCs: versatile and scalable solutions for any application | PDF | HTML | 2017年 7月 27日 | |||
| アプリケーション・ノート | TLE4275 Low Temperature Stability | 2012年 1月 18日 |
設計および開発
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MLTLDO2EVM-037 — DCY、DDA、KVUパッケージ向け汎用LDOリニア電圧レギュレータの評価モジュール
MLTLDO2EVM-037 マルチパッケージ低ドロップアウト (LDO) 評価基板 (EVM) を使用すると、独自回路アプリケーションで採用する可能性のある使用方法に関して、リニア レギュレータが一般的に採用している各種パッケージの動作と性能を評価することができます。この EVM 構成は、DDA、3 ピンと 5 ピンの各 KVU、DCY という各パッケージのフットプリントを確保しており、実際に使用するパーツの半田付けと評価を実施できます。
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| HTSSOP (PWP) | 20 | Ultra Librarian |
| TO-252 (KVU) | 5 | Ultra Librarian |
| TO-263 (KTT) | 5 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
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