データシート
SN54SC1G125-SEP
- VID TBD-01XE
- 放射線 - トータル ドーズ効果 (TID)：
- 50krad(Si) まで、吸収線量 (TID) 特性を評価済み
- 30krad(Si) まで吸収線量 (TID) 性能保証
- すべてのウェハー ロットに対する 30krad(Si) までの放射線ロット受け入れテスト (RLAT)
- 放射線 - シングル イベント効果 (SEE)：
- シングル イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：125℃において 50MeV-cm2/mg（最大値）
- シングル イベント過渡 (SET) 特性：LET = 43MeV-cm2/mg (最大値)
-
幅広い動作範囲：1.2V～5.5V
- 5.5V 耐圧入力ピン
- 標準ピン配置をサポート
- 5V または 3.3V の VCC で最大 150Mbps
- JESD 78 準拠で 100mA 超のラッチアップ性能
- 宇宙用強化プラスチック
- 防衛および航空宇宙用途をサポート
- 管理されたベースライン
- Au ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
- NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
- 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
- 長期にわたる製品ライフ サイクル
- 製品のトレーサビリティ
SN54SC1G125-SEP は、3 ステート出力に対応したシングル ライン ドライバです。出力イネーブル (OE) 入力が論理 High レベルの場合、出力はディセーブルされます。OE が論理 Low レベルの場合、真のデータが A 入力から Y 出力に渡されます。
ホワイト スペース
ホワイト スペース
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
評価ボード
5-8-LOGIC-EVM — 5 ～ 8 ピンの DCK、DCT、DCU、DRL、DBV の各パッケージをサポートする汎用ロジックの評価基板 (EVM)
5 ～ 8 ピンで DCK、DCT、DCU、DRL、DBV の各パッケージを使用する多様なデバイスをサポートできる設計のフレキシブルな評価基板です。
ユーザー ガイド: PDF
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| SOT-23 (DBV) | 5 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点