ISO6520-Q1
- 双通道 CMOS 输出功能隔离器
- 50Mbps 数据速率
- 具有符合 AEC-Q100 标准的下列特性:
- 器件温度等级 1:–40°C 至 +125°C 环境工作温度范围
- 稳健可靠的 SiO2 隔离栅(CMTI 典型值为 ±150kV/µs)
- 功能隔离(8-D):
- 450VRMS、637VDC 工作电压
- 707VRMS、1000VDC 瞬态电压 (60s)
- 宽电源电压范围:1.71V 到 1.89V 和 2.25V 到 5.5V
- 1.71V 至 5.5V 电平转换
- 默认输出高电平 (ISO652x-Q1) 和低电平 (ISO652xF-Q1) 选项
- 3.3V、1Mbps 时每通道电流典型值为 1.8mA
- 低传播延迟:3.3V 时为 11ns(典型值)
- 优异的电磁兼容性 (EMC)
- 系统级 ESD、EFT 和浪涌抗扰度
- 超低辐射
- 窄体 SOIC (8-D) 封装选项
ISO652x-Q1 器件是高性能双通道功能隔离器,适用于需要与非安全应用隔离的成本敏感、空间受限型应用。该隔离栅支持 450VRMS 的工作电压,以及 1000VDC 的瞬态过压。
在隔离互补金属氧化物半导体 (CMOS) 或者低电压互补金属氧化物半导体 (LVCMOS) 数字 I/O 的同时,ISO652x-Q1 器件还可提供高电磁抗扰度和低辐射,同时具备低功耗特性。每条隔离通道的逻辑输入和输出缓冲器均由 TI 的双电容二氧化硅 (SiO2) 绝缘栅相隔离。ISO6520-Q1 具有 2 个同向隔离通道。ISO6521-Q1 具有 2 个隔离通道,每个方向各一个通道。如果输入功率或信号出现损失,不带后缀 F 的器件默认输出高电平,带后缀 F 的器件默认输出低电平。更多详细信息,请参见器件功能模式部分。
这些器件有助于防止数据总线上的混合电压域系统(例如 CAN 和 LIN)之间的接地环路和噪声电流导致数据损坏。得益于芯片设计和布局布线技术,ISO652x-Q1 器件的电磁兼容性得到了显著增强,可缓解系统级 ESD 问题并符合辐射标准。
技术文档
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* | 数据表 | ISO652x-Q1 通用双通道汽车类功能隔离器 数据表 (Rev. A) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2025年 3月 7日 |
白皮书 | 通过系统设计中的功能隔离减小解决方案尺寸并降低 BOM 成 本 | PDF | HTML | 英语版 | PDF | HTML | 2024年 8月 23日 | |
应用手册 | 所选封装材料的热学和电学性质 | 2008年 10月 16日 |
设计和开发
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评估板
ISO6521REUEVM — ISO6521 适用于数字信号的双通道功能隔离器评估模块
ISO6521REUEVM 是一款用于评估采用 8 引脚 DFN 封装的双通道 ISO6521 功能隔离器的评估模块 (EVM)。此 EVM 具有其他封装,可让用户灵活地添加元件来测试各种常见应用。此 EVM 还具有多个测试点,支持使用较少的外部元件来评估相应器件。
封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
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SOIC (D) | 8 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息:
- 制造厂地点
- 封装厂地点