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設計と開発

CDCLVP111SEPEVM

CDCLVP111-SEP 評価基板

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概要

CDCLVP111-SEP 評価基板 (EVM) は、さまざまな電圧およびバイアス構成下でクロック バッファを評価するためのプラットフォームをもたらします。

特長
  • 2 つの差動入力クロックのうち 1 つを、10 個の差動 LVPECL 出力クロックに分配
  • クロック入力を選択可能
  • 低出力スキュー
  • 広い電源電圧範囲
クロック バッファ
CDCLVP111-SEP — 選択可能な入力クロック ドライバを備えた耐放射線性 1:10 LVPECL 高速クロック バッファ
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  2. 最新のライブラリをダウンロードします。
  3. リファレンス デザイン ファイルをダウンロードしてください。
  4. CDCLVP111-SEP の使用に関する最新のアプリケーション ノートを参照してください。

購入と開発の開始

評価ボード

CDCLVP111SEPEVM — CDCLVP111SEP evaluation module 1:10 LVPECL Clock Driver

サポート対象の製品とハードウェア
在庫あり
制限：
TI.com で在庫切れ
TI.com で取り扱いなし

CDCLVP111SEPEVM — CDCLVP111SEP evaluation module 1:10 LVPECL Clock Driver

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リリース日:
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技術資料

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2 をすべて表示
タイプ タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* EVM ユーザー ガイド (英語) CDCLVP111SEP Evaluation Module PDF | HTML 2025/08/21
証明書 CDCLVP111SEPEVM EU Declaration of Conformity (DoC) 2025/08/22

サポートとトレーニング

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