VIDEOREIHE
Serie Precision Labs: Analog-Digital-Wandler (ADCs)
Serie Precision Labs: Analog-Digital-Wandler (ADCs)
Understanding the difference between SAR and delta-sigma ADCs (4)
ADC drive topologies (5)
SAR AD-Eingabetypen
00:11:46Bestimmung des linearen Bereichs eines SAR-ADCs bei Verwendung von Operationsverstärkern
00:17:18Praktisches Experiment: Übernahmeverzerrung auf dem ADC-Antrieb
00:11:36Bestimmung des linearen Bereichs eines SAR-ADCs bei Verwendung von Instrumentenverstärkern
00:09:17Ansteuerung eines SAR-ADCs mit einem Volldifferenzverstärker
00:13:37AC and DC specifications (7)
Einführung in die Frequenzdomäne
00:11:17Schnelle Fourier-Transformationen (FFTs) und Fenstermodus
00:10:45Kohärente Abtastung und Filterung zur Verbesserung von SNR und THD
00:06:58Aliasing- und Anti-Aliasing-Filter
00:13:19Praktisches Experiment: Aliasing- und Anti-Aliasing-Filter
00:24:54ADC-DC-Spezifikationen: INL, DNL, Cin, Leckage, Vref
00:14:22AC- und DC-Spezifikationen: Offset-Fehler, Verstärkungsfehler, CMRR, PSRR, SNR und THD
00:11:00ADC noise (17)
Einführung zum Rauschen in ADC-Systemen
00:13:01Types of noise in ADCs
00:15:44ADC-Rauschmessung, Methoden und Parameter
00:25:34Systemrauschleistung für Delta-Sigma-ADCs mit niedriger Geschwindigkeit
00:25:06Analyse und Berechnung der Rauschbandbreite in ADC-Systemen – mehrstufige Filter
00:24:37Analyse und Berechnung der Rauschbandbreite in ADC-Systemen – der Digitalfilter
00:23:48Gain impact on noise, ADC FSR and dynamic range
00:22:28Berechnung des Verstärkers + ADC-Gesamtrauschens: Designbeispiele
00:13:12Introduction to reference noise in ADC systems
00:15:36Auswirkung von Referenzrauschen auf die Leistung der Signalkette
00:17:55Reduzieren des Referenzrauschens in ADC-Systemen: Ratiometrisch, intern, extern
00:11:32Auswirkungen von Taktrauschen auf Präzisions-ADC-Messungen
00:22:34Understanding power supply noise in ADC systems
00:12:23Techniken zur Rauschunterdrückung bei der Stromversorgung
00:13:16Berechnung des Gesamtrauschens für ADC-Systeme
00:10:11Praktisches Experiment: ADC-Rauschen
00:16:35Understanding power supply noise in ADC systems
00:12:23Error sources (3)
Digital communications basics (6)
SAR ADC input driver design (7)
Einführung zu SAR-ADC-Frontend Komponentenauswahl
00:17:36Auswahl und Überprüfung des Treiberverstärkers
00:09:01Erstellen des SAR-ADC-Modells
00:12:17Verfeinern Sie die Rfilt- und Cfilt-Werte der ADC-Steuerung
00:13:42Praktisches Experiment: Design von Einschwingfiltern für Verstärker und Ladesäulenfiltern
00:22:03Die Mathematik hinter der R-C-Komponentenauswahl
00:06:09Antreiben eines SAR-ADCs ohne Verstärker
00:15:21Driving the reference input on a SAR ADC (6)
Protecting ADCs from electrical overstress (EOS) (12)
EOS und ESD am ADC
00:16:00Externe EOS-Schutzbausteine
00:10:32Importieren Sie das PSpice-Modell der Diode in TINA.
00:03:55Schutz von Niederspannungs-ADC vor Hochspannungsverstärkern
00:23:28Schutz von Niederspannungs-ADC: Verbesserte Lösung
00:07:15Schutz von ADCs mit TVS-Diode
00:19:21Schutz von ADCs mit TVS-Diode: Verbesserte Lösung
00:14:43Schutz von Delta-Sigma mit ADC: RTD-Übersicht
00:12:25Schutz von Delta-Sigma mit ADC: Betrieb des Eingangsschutzschaltkreises
00:11:36Protecting Delta-Sigma Component Selection
00:11:22Schutz von Delta-Sigma mit TVS: Performance Impact
00:14:06Schutz von Delta-Sigma mit ADC: Special Input Range
00:08:10PCB design for good EMC (8)
Introduction - PCB Design for good EMC
00:17:37PCB trace as a Wave Guide
00:15:50PCB Stackup Impact on Performance
00:09:02PCB Trace Impedance Matching
00:11:48Crosstalk on PCB ayouts
00:16:26Probleme mit der Datenintegrität
00:17:47Entkopplungskondensatoren
00:17:50Methoden und Normen zur Prüfung der elektromagnetischen Verträglichkeit
00:22:16Measuring RTDs with precision ADCs (11)
Einführung in RTDs
00:13:07RTD-Messschaltkreise
00:25:00Herausforderungen bei 3-Draht-RTD-Systemen
00:32:34Messung mehrerer RTDs mit Multiplexer-ADC & Einführung in die Wandlungslatenz
00:24:07Entwicklung von softwarekonfigurierbaren im Vergleich zu hardwarekonfigurierbaren Multi-RTD-Messsystemen
00:16:53Anfängliche Fehlerquellen in RTD-Messsystemen
00:13:49Temperaturdrift und andere Fehlerquellen in RTD-Messsystemen
00:21:26Schätzen des Gesamtfehlers in RTD-Messsystemen
00:19:43Kalibrieren eines RTD-Messsystems
00:20:45Temperaturkalibrierung in RTD-Messsystemen
00:15:07Auswahl der Komponentenwerte für RTD-Messsysteme
00:18:30Low-power SAR ADC system design (2)
High-speed ADC fundamentals (7)
Vergleich von Highspeed-Analog-Digital- (Analog-to-Digital Converter, ADC) und Digital-Analog-Wandlerarchitekturen (Digital-to-Analog Converter, DAC)
00:18:40Auswirkungen von Jitter auf das Signal-Rausch-Verhältnis (Signal-to-Noise Ratio, SNR) für Highspeed-Analog-Digital-Wandler (Analog-to-Digital Converters, ADCs)
00:08:00Grundlegendes zum Signal-Rausch-Verhältnis und der spektralen Rauschdichte in Highspeed-Datenwandlern
00:14:32Bandbreite vs. Frequenz: Subsampling-Konzepte
00:09:16Abtastung vs. Datenrate, Dezimation (DDC) und Interpolation (DUC) in Hochgeschwindigkeitsdatenwandlern
00:18:40Grundlegendes zu Abtastung, Nyquist-Zonen, Oberschwingungen und unerwünschte Leistung in Highspeed-ADCs
00:04:24Signalverarbeitung von Highspeed-Datenwandlern: Reale und komplexe Modulation
00:15:44SAR und Delta-Sigma: Grundlegender Betrieb
In diesem Video wird der grundlegende Betrieb der SAR- und Delta-Sigma-Topologien vorgestellt.
In diesem Video wird der grundlegende Betrieb der SAR- und Delta-Sigma-Topologien vorgestellt. Zukünftige Videos werden diese Informationen noch näher erläutern. Das letzte Video dieser Reihe hilft Ihnen bei der Auswahl einer der beiden Topologien.
Ressourcen
Laden Sie die Taschenreferenz für Analogingenieure als E-Book herunter. Alle Videos in der Schulungsreihe „TI Precision Labs – ADCs“ anzeigen Laden Sie den Rechner für Analogingenieure herunter und installieren Sie ihn. Laden Sie TINA-TI herunter und installieren Sie die Anwendung. TINA-TI ist der empfohlene Simulator, der ausschließlich in Verbindung mit TI Precision Labs verwendet wird.
Understanding the difference between SAR and delta-sigma ADCs (4)
ADC drive topologies (5)
SAR AD-Eingabetypen
00:11:46Bestimmung des linearen Bereichs eines SAR-ADCs bei Verwendung von Operationsverstärkern
00:17:18Praktisches Experiment: Übernahmeverzerrung auf dem ADC-Antrieb
00:11:36Bestimmung des linearen Bereichs eines SAR-ADCs bei Verwendung von Instrumentenverstärkern
00:09:17Ansteuerung eines SAR-ADCs mit einem Volldifferenzverstärker
00:13:37AC and DC specifications (7)
Einführung in die Frequenzdomäne
00:11:17Schnelle Fourier-Transformationen (FFTs) und Fenstermodus
00:10:45Kohärente Abtastung und Filterung zur Verbesserung von SNR und THD
00:06:58Aliasing- und Anti-Aliasing-Filter
00:13:19Praktisches Experiment: Aliasing- und Anti-Aliasing-Filter
00:24:54ADC-DC-Spezifikationen: INL, DNL, Cin, Leckage, Vref
00:14:22AC- und DC-Spezifikationen: Offset-Fehler, Verstärkungsfehler, CMRR, PSRR, SNR und THD
00:11:00ADC noise (17)
Einführung zum Rauschen in ADC-Systemen
00:13:01Types of noise in ADCs
00:15:44ADC-Rauschmessung, Methoden und Parameter
00:25:34Systemrauschleistung für Delta-Sigma-ADCs mit niedriger Geschwindigkeit
00:25:06Analyse und Berechnung der Rauschbandbreite in ADC-Systemen – mehrstufige Filter
00:24:37Analyse und Berechnung der Rauschbandbreite in ADC-Systemen – der Digitalfilter
00:23:48Gain impact on noise, ADC FSR and dynamic range
00:22:28Berechnung des Verstärkers + ADC-Gesamtrauschens: Designbeispiele
00:13:12Introduction to reference noise in ADC systems
00:15:36Auswirkung von Referenzrauschen auf die Leistung der Signalkette
00:17:55Reduzieren des Referenzrauschens in ADC-Systemen: Ratiometrisch, intern, extern
00:11:32Auswirkungen von Taktrauschen auf Präzisions-ADC-Messungen
00:22:34Understanding power supply noise in ADC systems
00:12:23Techniken zur Rauschunterdrückung bei der Stromversorgung
00:13:16Berechnung des Gesamtrauschens für ADC-Systeme
00:10:11Praktisches Experiment: ADC-Rauschen
00:16:35Understanding power supply noise in ADC systems
00:12:23Error sources (3)
Digital communications basics (6)
SAR ADC input driver design (7)
Einführung zu SAR-ADC-Frontend Komponentenauswahl
00:17:36Auswahl und Überprüfung des Treiberverstärkers
00:09:01Erstellen des SAR-ADC-Modells
00:12:17Verfeinern Sie die Rfilt- und Cfilt-Werte der ADC-Steuerung
00:13:42Praktisches Experiment: Design von Einschwingfiltern für Verstärker und Ladesäulenfiltern
00:22:03Die Mathematik hinter der R-C-Komponentenauswahl
00:06:09Antreiben eines SAR-ADCs ohne Verstärker
00:15:21Driving the reference input on a SAR ADC (6)
Protecting ADCs from electrical overstress (EOS) (12)
EOS und ESD am ADC
00:16:00Externe EOS-Schutzbausteine
00:10:32Importieren Sie das PSpice-Modell der Diode in TINA.
00:03:55Schutz von Niederspannungs-ADC vor Hochspannungsverstärkern
00:23:28Schutz von Niederspannungs-ADC: Verbesserte Lösung
00:07:15Schutz von ADCs mit TVS-Diode
00:19:21Schutz von ADCs mit TVS-Diode: Verbesserte Lösung
00:14:43Schutz von Delta-Sigma mit ADC: RTD-Übersicht
00:12:25Schutz von Delta-Sigma mit ADC: Betrieb des Eingangsschutzschaltkreises
00:11:36Protecting Delta-Sigma Component Selection
00:11:22Schutz von Delta-Sigma mit TVS: Performance Impact
00:14:06Schutz von Delta-Sigma mit ADC: Special Input Range
00:08:10PCB design for good EMC (8)
Introduction - PCB Design for good EMC
00:17:37PCB trace as a Wave Guide
00:15:50PCB Stackup Impact on Performance
00:09:02PCB Trace Impedance Matching
00:11:48Crosstalk on PCB ayouts
00:16:26Probleme mit der Datenintegrität
00:17:47Entkopplungskondensatoren
00:17:50Methoden und Normen zur Prüfung der elektromagnetischen Verträglichkeit
00:22:16Measuring RTDs with precision ADCs (11)
Einführung in RTDs
00:13:07RTD-Messschaltkreise
00:25:00Herausforderungen bei 3-Draht-RTD-Systemen
00:32:34Messung mehrerer RTDs mit Multiplexer-ADC & Einführung in die Wandlungslatenz
00:24:07Entwicklung von softwarekonfigurierbaren im Vergleich zu hardwarekonfigurierbaren Multi-RTD-Messsystemen
00:16:53Anfängliche Fehlerquellen in RTD-Messsystemen
00:13:49Temperaturdrift und andere Fehlerquellen in RTD-Messsystemen
00:21:26Schätzen des Gesamtfehlers in RTD-Messsystemen
00:19:43Kalibrieren eines RTD-Messsystems
00:20:45Temperaturkalibrierung in RTD-Messsystemen
00:15:07Auswahl der Komponentenwerte für RTD-Messsysteme
00:18:30Low-power SAR ADC system design (2)
High-speed ADC fundamentals (7)
Vergleich von Highspeed-Analog-Digital- (Analog-to-Digital Converter, ADC) und Digital-Analog-Wandlerarchitekturen (Digital-to-Analog Converter, DAC)
00:18:40Auswirkungen von Jitter auf das Signal-Rausch-Verhältnis (Signal-to-Noise Ratio, SNR) für Highspeed-Analog-Digital-Wandler (Analog-to-Digital Converters, ADCs)
00:08:00Grundlegendes zum Signal-Rausch-Verhältnis und der spektralen Rauschdichte in Highspeed-Datenwandlern
00:14:32Bandbreite vs. Frequenz: Subsampling-Konzepte
00:09:16Abtastung vs. Datenrate, Dezimation (DDC) und Interpolation (DUC) in Hochgeschwindigkeitsdatenwandlern
00:18:40Grundlegendes zu Abtastung, Nyquist-Zonen, Oberschwingungen und unerwünschte Leistung in Highspeed-ADCs
00:04:24Signalverarbeitung von Highspeed-Datenwandlern: Reale und komplexe Modulation
00:15:44