TI precision labs seminar

Grundlagen und Spezifikationen von Verstärkern

Diese Veranstaltung vermittelt Vorgehensweisen für die Vorhersage von Fehlern aufgrund von Vos, Ib, Temperaturdrift sowie des internen Ursprungs dieser Fehlerquellen. Beim Überblick über das Dynamikverhalten werden Iq, Anstiegsrate und Bandbreite betrachtet. Zudem werden die Parameterspezifikationen im Datenblatt diskutiert. 

Fortschrittliche Verstärkertechnologien

Es wird ein allgemeiner Überblick mit Schwerpunkt auf den Unterschieden zwischen CMOS-, Bipolar- und JFET-Verstärkern gegeben. Zudem werden moderne Verstärkertechnologien wie Zero-Crossover und Zero-Drift vorgestellt. Darüber hinaus werden grundlegende Prozessunterschiede im Zusammenhang mit der Verstärkerleistung besprochen.

Eingangsspannungsrauschen, Eingangsstromrauschen und Filtertechniken

Vorhersage von Verstärker- und Widerstandsrauschen durch Berechnung und Simulation. Definition von Rauschverstärkung, Rauschbandbreite, spektraler Strom- und Spannungsrauschdichte und RMS-Gesamtrauschen. Erläuterung von Flicker- und Breitbandrauschen. Vergleich realer Messungen mit Berechnungen. 

Schaltungsstabilitätsanalyse und Kompensationsschemata 

Die Ansteuerung einer kapazitiven Last oder eine übermäßige Kapazität am invertierenden Knoten des Operationsverstärkers können zu Schwingungen führen. Diese Präsentation zeigt, wie die Verstärkerstabilität mithilfe von Simulationen vorhergesagt werden kann. Außerdem werden Methoden zur Problembehandlung vorgestellt. 

Komparatoranwendungen

Es wird eine allgemeine Übersicht mit Schwerpunkt auf dem grundlegenden Einsatz von Komparatoren gegeben. Zu den Themen gehören Erläuterungen der besonderen Spezifikationen für Komparatoren, die verschiedenen Typen und Optionen von Komparatoren sowie häufige Probleme mit Kundenanwendungen.