數位 X 光 AFE

適用於醫療和牙科成像、非破壞檢測和顯示校準系統的高度整合充電至數位類比前端 (AFE)
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我們適用於 X 光平板偵測器、充電偵測和電容量測系統的高通道數 AFE,整合了多達 256 個積分器、可編程增益放大器、相關雙取樣器和高速充電轉數位類比轉數位轉換器 (ADC)。這些產品以覆晶式薄膜封裝或晶粒提供,提供了多種充電範圍和掃描時間選項,讓設計師能在靜態、半動態、動態、非破壞檢測以及醫療和牙科應用中,做出功率和性能上的取捨。

    為何選擇我們的數位 X 光 AFE?

    簡化系統設計
    提升系統性能
    相容的產品方案可滿足多個市場