為何選擇 TI 產品進行測試和量測應用？
設計測試和測量的下一代產品
提高測試通道密度以滿足對 IC 的日益增長的需求，並增加 VI 儀器所需支援的電壓與電流。我們的功率放大器、開關和電源模組可縮減解決方案尺寸，增加測試通道密度。
Pairing up Op Amp and Buffer for Higher Output Power Plus Speed in ATE
How to Select Precision Amplifiers for Semiconductor Testers (Rev. A)
When to Replace a Relay With a Multiplexer (Rev. A)
將雜訊降到最低，這是工程師在設計對雜訊敏感的系統時，常遇到的一大挑戰，例如時脈、資料轉換器或放大器。雖然每個人對「雜訊」一詞的定義不盡相同，我們會將雜訊定義成由電路中電阻器和電晶體所產生的低頻率熱雜訊。
您可透過頻譜雜訊密度曲線 (單位為微伏特/平方根赫茲) 來識別雜訊，或是以均方根微伏特為單位找出整合式輸出雜訊 (通常為 100 Hz 至 100 kHz 間特定範圍)。我們提供可協助緩解可能影響訊號鏈裝置性能的潛在雜訊耦合的產品與參考設計。
What is a low noise inverting buck converter?
1µV Ultra-Low Noise 12 Vin 3.3 Vout 1-A Power Supply
Low-noise and low-ripple techniques for a supply without an LDO PPT
憑藉數十年的創新，我們提供專為測試與量測應用量身打造的高性能解決方案。我們先進的類比轉數位轉換器 (ADC)、數位轉類比轉換器 (DAC)、時脈和射頻 (RF) 放大器提供高速、高性能和高可靠性。我們的元件以長期可用性和支援為後盾，能讓您建立下一代系統，突破量測準確度和效率的極限。
探索 RF 取樣資料轉換器在測試與測量應用中的快速跳頻
抗混疊濾波器設計技術如何改善主動式 RF 轉換器前端
串連 LMX1204 參考設計
4 通道、50A 數位控制電池芯測試器參考設計
數位控制成本最佳化的 10 A 電池化成與測試參考設計
此參考設計為多通道電池化成與測試應用提供符合成本效益的設計。此設計使用 C2000™ 即時微控制器 (MCU) 與 16 通道同時取樣精密 ADC，可進行垂直擴展擴充以支援 8 通道電池芯測試。此設計運用 HRPWM 模組進行精確的工作週期控制，以達到精密數位類比轉換器的性能，進而節省超過 30% 的物料清單成本。MCU 整合 2p2z 控制，可用於恆定電流 (CC) 及恆定電壓 (CV) 控制運作。多通道 ADC 可將軟體中電流和電壓迴路的靈活性最佳化。此設計允許以單一方式進行多種電流與電壓位準輸出。
整合式低漂移精密數位萬用表和資料擷取訊號鏈參考設計
此參考設計說明用於 DC 量測之高性能訊號鏈的理論、設計與測試。主要目標應用是數位萬用表 (DMM)，但此設計也適用於其他應用，例如資料擷取 (DAQ) 和狀況監控。此設計使用高性能 24 位元類比轉數位轉換器 ADS127L21，以及低雜訊可編程增益放大器 PGA855，並具備 ±2.4ppm 的典型非線性與低溫度致漂移，進而實現高 DC 準確度。這些裝置皆高度整合，可簡化整體訊號鏈設計。