試験 / 測定機器

IC に対する需要の増大に伴い、テスト チャネルの高密度化、VI 計測機器が対応すべき電圧と電流が増加しています。TI のパワー アンプ、スイッチ、パワー モジュールを採用すると、ソリューション サイズの縮小およびテスト チャネル密度の向上を実現できます。

ノイズを最小限に抑えることは、クロックやデータ コンバータ、アンプなど、試験および測定アプリケーション向けのノイズの影響を受けやすいシステムの電源を設計するエンジニアに共通の課題です。「ノイズ」という用語は人によって意味が異なりますが、TI ではノイズを、回路の中の抵抗とトランジスタにより発生する低周波数の熱ノイズと定義しています。

ノイズは、平方根ヘルツあたりのマイクロボルト単位のスペクトル ノイズ密度曲線により、また 2 乗平均平方根マイクロボルト単位の積分出力ノイズとして確認することができ、一般的に 100Hz ～ 100kHz の特定の範囲にわたります。TI は、シグナル チェーン内のデバイスのパフォーマンスに影響を及ぼす可能性のあるノイズ結合を低減するのに役立つ製品とリファレンス デザインを提供しています。

TI は数十年にわたる革新を実現し、試験 / 測定のアプリケーション向けにカスタマイズ済みの高性能ソリューションを提供しています。当社の高度な A/D コンバータ (ADC)、D/A コンバータ (DAC)、クロック、無線周波数 (RF) アンプは、高速、高性能、信頼性の実現に貢献します。当社の製品は、長期的な供給とサポートを通じて、測定の精度と効率の限界を押し上げる次世代のシステムを実現します。